Vol.13, N°5 (2017) - Article 30

Contribution à la caractérisation des conductivités des couches minces

Depuis quelques décennies, nous assistons à une évolution fréquente de la technologie des dispositifs d’électronique de grandes performances avec de très petites tailles. Cette technologie ouvre les voies de la miniaturisation de matériau massif pour répondre dans plusieurs domaines de la technologie. Différentes recherches utilisent ainsi le matériau de petite taille appelé couche mince qui a des propriétés physiques différentes de celles du matériau massif. Cette couche mince participe ainsi à une large application dans les domaines technologiques et son intérêt est croissant à cause de sa multiplication en grand nombre et à moindre coût. L’objectif de cette étude est de caractériser la conductivité de couches minces et nous en sommes arrivés à montrer que cette conductivité est constante pour un point d’épaisseur e = 1,6 µm de 20 Hz à 30 KHz et au-delà de cette fréquence, elle chute.

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