La densité de courant de court-circuit (JSC) et le profil du taux d’absorption des photons dans les couches actives plasmoniques ont été étudiés, en utilisant la théorie du milieu effectif couplé avec le modèle des semi conducteurs. Ensuite, la méthode classique de Wolf et de Rauschenbach a été exploitée pour déterminer la résistance série (Rs) à partir des caractéristiques courant-tension (J-V) sous éclairement et à l’obscurité de la cellule. Pour analyser la résistance série déterminée, un modèle analytique simple a été développé ; permettant d’établir une distinction entre la résistance série interne et externe. Finalement, le modèle analytique a été comparé aux simulations numériques. Les résultats de simulation indiquent une amélioration potentielle de la densité de photocourant et une redistribution de la lumière dans les couches actives par plasmons de particules. Le modèle analytique décrit très bien les résistances série dans les simulations numériques.